kl-50焊条烘干机-烘干机-津泽机电科技

semilab错位缺陷可视化装置envision

wt-2000 系列能够进行高速测量（20 晶圆/小时 - 2500 点），还支持高分辨率映射测量。

提供 266nm、355nm、405nm、532nm、785nm 和 980nm 的多种激光选项

晶体缺陷可视化装置 envision 是一种非破坏性、非接触式半导体检测系统，可以在 15 nm 级别可视化位错缺陷。错位缺陷的可视化使得过去依赖于工艺---的经验和直觉的工艺工作的定量优化成为可能。

对于2英寸到8英寸的硅晶圆和化合物半导体（gaas、gan、inp 等）外延晶圆，可以对载流子迁移率、薄层电阻和薄层电荷密度进行非接触和非破坏性测量。

corema-2000 能够对硅和化合物半导体进行非破坏性和非接触式电阻率测量。我们可以处理过去难以处理的电阻基板，例如半绝缘材料。

cn-cv 350 cv/iv 系统基于获得的 corona-kelvin 方法提供 semilab sdi cv/iv 测量，用于介电和界面特性的非接触成像。这个---平台能够从双 foup 装载端口装载站自动处理晶圆，并且完够在苛刻的大批量生产环境中支持在线测量。

cn-cv 330/230 cv/iv 系统基于获得的 corona-kelvin 方法提供 semilab sdi cv/iv 测量，用于监测晶圆上的介电和界面特性的非接触式成像。

塑料元件flow controls不锈钢元件100系列

塑料元件，不锈钢管85系列，不锈钢元件，不锈钢管100系列，塑料元件，---聚120系列，塑料元件，尼龙管，---140系列，塑料元件，kl-50焊条烘干机，塑料喷嘴160系列，塑料元件，塑料喷嘴190系列

产品介绍

静态混合器没有驱动部件的在线简单结构可以稳定混合。

产品阵容包括专为高压混合设计且使用后易于清洁的“85 系列一般用途”，以及外壳和元件均使用不锈钢的“100 系列全不锈钢型号” 。

[特点]

容易清洗

可稳定混合

无驱动部件

免维护

压力损失小

成本低

塑料元件/不锈钢管85 系列（螺旋式/用于高压/滤芯更换）

规格型号元素

（外径、套数）外管

（外径/长度）口径

（不扩散条约男性） 085-212 φ9.40 x12 φ13.72x106.7 1/4 085-218 φ9.40 x18 φ13.72x154.9 1/4 085-224 φ9.40 x24 φ13.72x205.7 1/4 085-230 φ9.40x30 φ13.72x254.0 1/4 085-324 φ12.65x24 φ17.15x271.8 3/8 085-330 φ12.65x30 φ17.15x332.7 3/8 085-430 φ16.00x30 φ21.34x416.6 1/2 085-632 φ20.07x32 φ20.72x551.2 3/4不锈钢元件/不锈钢管100 系列（螺旋/高压/676°c/滤芯更换）

规格型号元素

（外径、套数）外管

（外径/长度）口径