热电性能评价装置zem-3系列-评价装置-advance理工

advance理工氙气闪光法热扩散率测量装置td-1系列

氙气闪光法热扩散率测量装置td-1系列

该装置能够评价和测量散热膜的厚度方向和内部各向---。采用氙气灯可降低对样品的侵蚀性，热电性能评价装置zem-3系列，使用附件可轻松测量样品的各向---。

用法

高分子材料的热扩散率测量（厚度方向）

比热容的测量和导热系数的评估

可以对热扩散率进行各向---评估（面内方向）

多层材料的热扩散率评估（厚度方向）

特征

适用于导热高分子材料的热物性评价

测量气氛可以从空气、真空和惰性气体中选择（rta型仅支持空气）

省电（ac100v 15a，热电转换效率评价装置，pc除外）

节省空间的桌面安装型

温度可控制在室温至 350°c（温度测量仅适用于 htv 型）

2ω法纳米薄膜热导率仪tcn-2ω

该装置是目---界上一款使用2ω法测量纳米薄膜厚度方向导热系数的商用装置。与其他方法相比，样品制备和测量可以很容易地进行。

用法

用于半导体器件热设计的低 k 绝缘膜热阻数值化

绝缘膜的开发及散热性的---

热电薄膜应用评估

特征

能够测量在基板上形成的 20 至 1000 nm 薄膜的厚度方向的热导率

热反射法温度振幅检测测量的实现

轻松预处理测量样品

理工advance绝缘电阻测量仪ehr系列

绝缘电阻测量仪ehr系列

绝缘体样品的温度相关测量。

可以测量陶瓷、塑料和玻璃等绝缘体的温度依赖性。

用法

玻璃及半导体玻璃的研发

氧化锆绝缘的绝缘评估

树脂绝缘体的耐热性评价（芯片接合、成型材料）

特征

由于通过提供环形保护电极消除了样品板的表面泄漏电阻，因此可以进行测量。

ter系列金属和半导体电阻测量设备

金属的相变、时效和再结晶反应。

使用直流四端法可以测量金属合金和半导体的电阻。

用法

金属相变、时效析出、再结晶等研究。

非晶态金属的再结晶分析

形状记忆合金的研发

各种半导体材料在温度下的电阻测量

特征

可在恒速加热/冷却和恒温保持过程中测量电阻

直流四端子法可实现---测量

不受热电动势影响的测量

绝热比热测量仪sh-3000系列

比热容、潜热和转化热的测量。

绝热控制系统可测量比热容、潜热和相变热。

用法

测量各种材料的比热容

高分子材料的玻璃化转变测量

固相反应、固液反应动力学分析

特征

绝热控制可在几乎平衡的状态下进行测量

焦耳热由内部微型加热器施加，并测量样品的升温速率。