装置-制氮机装置slf系列-津泽机电科技(商家)

enabler时间服务器1083b

产品介绍

主要特点

支持gps定位系统以及北斗定位系统。

同步精度优于200ns；

---守时时钟，制氮装置slf-5000-3，守时精度可达到1us/h。

支持irig-b、pps、ppm等光纤输出接口可根据使用灵活配置。

多以太网接口，可同时支持ieee1588和sntp对时协议。

双电源冗余配置，制氮装置slf-1000-1，供电。

保护级软硬件设计，设备运行稳定。

提供双时钟互备接口，实现双时钟的互检。

iec61850规约实现时钟状态传输。

单一装置实现双时钟的互备冗余。

应用

(1)计算机网络、计算机应用系统、流程控制管理系统；

(2)电力厂（站）和电网中心调度的时间统一系统及各种时间显示屏；

(3) 电子商务系统、b2b网上系统以及数据库的保存及维护等系统；

(4)广电、金融、移动通信、石油、电力、交通、工业以及等领域。

wt-2000p电阻率计semilab钢锭缺陷检测装置

wt-2000p 是一种高通量在线测量仪器，通过测量载流子复合寿命和电阻率来监控硅块的。在大 210 x 210 x 500 mm 的硅块上进行快速非接触式测量（单点、线扫描和/或地图）。有手动和自动测量方式，上块功能也有手动和自动（传送带）。它还具有自动化功能。

载流子复合寿命是多晶硅块的关键控制参数。测量基于 μ-pcd 方法。电阻率是基于涡流法测量的。

wt-2000pvn 是一款台式测量装置，可以测量各种太阳能电池、晶圆和块。基本系统配备间接功能，您可以根据实际需要从以下选项中选择配置测量功能。wt-2000pvn不仅可以测量晶圆和电池，还可以测量块和锭。测量晶圆或电池时，通常会创建地图。此外，在测量块或锭时，通常只创建线扫描以节省时间，但 wt-2000pvn 可以同时进行。

少数载流子寿命测量装置。u-pcd法可对硅块、硅片进行非接触、无损的寿命测量，并可进行映射显示。通过寿命测量，可以评估污染和杂质，例如硅和化合物半导体中的铁浓度。

wt-1200i 是一种非接触式手持式仪器，用于基于涡流检测光电导衰减 (e-pcd) 的单点体积寿命单点测量，适用于单晶锭和小块金属污染。专为检测而开发。与表面钝化样品中的 μ-pcd 高度相关。