b-55手压机-matex精工-手压机

sibata柴田科学吸入试验装置发生器sis-cs型

sis-cs型，sg-300型，df-3型，df-5型，nb-2n型

产品介绍

粉尘给料机df-5型:该装置不断产生大量的固体颗粒，例如矿物粉尘。它由洁净空气单元、引气器、转盘、振动器、料斗等组成。粉体从料斗置于沿转盘圆周设置的凹槽上，由引气器吸入，与初级混合空气。，以气溶胶的形式提供。

纳米气溶胶发生器:*本装置可在气相中产生纳米气溶胶，并以恒定流速供给定容室。可用于使用纳米粒子的各种试验（动物吸入试验等）。采用喷雾干燥法生成，设备由喷雾器、带分离器的干燥管、加热器单元、气溶胶中和器组成。

气体发生装置及供给装置:本装置是用于吸入实验的试验物质发生器。主要用于产生低沸点蒸气。发生部分采用耐化学性强的玻璃，采用加热装置汽化的方法。通过恒温浴稳定浓度并分配至各室。腔室数量的结构使得从1到5的每个浓度水平都可以轻松设置。

供给装置nb-2n型:使用压缩空气的和超声波可用作在室温下雾化液体样品的方法。一般情况下，被检物质溶解于水或油脂中，中有时会以---5g/m3的高浓度进行---试验，因此被检物质范围广泛。在该设备中，我们的技术用于稳定腔室中的雾浓度并细化粒径分布。

wt-2000p电阻率计semilab钢锭缺陷检测装置

wt-2000p 是一种高通量在线测量仪器，鹰潭手压机，通过测量载流子复合寿命和电阻率来监控硅块的。在大 210 x 210 x 500 mm 的硅块上进行快速非接触式测量（单点、线扫描和/或地图）。有手动和自动测量方式，上块功能也有手动和自动（传送带）。它还具有自动化功能。

载流子复合寿命是多晶硅块的关键控制参数。测量基于 μ-pcd 方法。电阻率是基于涡流法测量的。

wt-2000pvn 是一款台式测量装置，nsc-06手压机，可以测量各种太阳能电池、晶圆和块。基本系统配备间接功能，您可以根据实际需要从以下选项中选择配置测量功能。wt-2000pvn不仅可以测量晶圆和电池，还可以测量块和锭。测量晶圆或电池时，通常会创建地图。此外，在测量块或锭时，通常只创建线扫描以节省时间，但 wt-2000pvn 可以同时进行。

少数载流子寿命测量装置。u-pcd法可对硅块、硅片进行非接触、无损的寿命测量，并可进行映射显示。通过寿命测量，可以评估污染和杂质，例如硅和化合物半导体中的铁浓度。

wt-1200i 是一种非接触式手持式仪器，用于基于涡流检测光电导衰减 (e-pcd) 的单点体积寿命单点测量，适用于单晶锭和小块金属污染。专为检测而开发。与表面钝化样品中的 μ-pcd 高度相关。