理工advance热扩散率测量装置ftc系列
周期加热法热扩散率测量装置ftc系列，稳态法导热系数测量装置gh-1系列，高温复合热物性测量装置rmp-1，绝缘电阻测量仪ehr系列，金属和半导体电阻测量设备ter系列，绝热比热测量仪sh-3000系列
产品介绍
周期加热法热扩散率测量系统 ftc 系列
轻松评估难以用闪光法测量的薄膜样品。
该设备使用交流焦耳加热法测量薄膜聚合物、纸和陶瓷等固体在厚度方向上的热扩散率。
通过将测量范围于需求量很大的室温，实现了紧凑的机身和低廉的价格。
用法
薄膜材料的热扩散率测量（厚度方向）
高分子薄膜、散热片、电子器件材料、导电偶样品、功率器件等高分子材料的数据采集、研发和控制
特征
与闪光法相比，样品的厚度---不到一半，非常适合评估薄聚合物材料的热物理性质。
聚酰样品为 10 μm 至 200 μm
测量重现性高，激光闪光法热常数测量装置，因为检测区域很宽，可以在样品表面进行测量。
省电（ac 100 v 15 a，pc 除外）
安装面积约为 a3 大小，不到我们传统型号 (ftc-1) 的一半。
差热天平 tgd-9000 系列advance理工
差热天平 tgd-9000 系列
tgd-9000 系列可以执行从室温到温的各种 tg/dta 测量。此外，配备红外线金像炉的机型实现了从低速到高速的多种加热条件。
用法
塑料的热分解、耐热性评价及控制
陶瓷粘结剂及热电材料的研究与开发
钢铁材料的耐氧化性评价、还原反应
煤的灰分分析、橡胶中碳的定量测定
特征
单个 tg 允许高度灵敏的测量，因为只有样品连接到天平
dta是分离型，与tg分开放置，所以对tg测量没有影响。
我们的红外金像炉实现了广泛的镀金和抛物面反射和---1700°c高温加热的均热区，这是其他公司---的。
标配 2cc 样品容器（ tg 测量）
通过真空设计技术，装置，可将采样系统更换为高真空气体，并可在高纯气流中进行测量。
差示扫描量热仪dsc-r系列
所有型号均配备高灵敏度传感器作为标准设备。
dsc-r系列通过严格的热设计实现了高度稳定的基线。
有了标准规格，纳米粒子形成装置apd系列，现在可以测量比热容，升华精制装置trs系列，这在当时是很困难的。此外，虽然是标准型号，但灵敏度达到了1.6 μw。
用法
高分子材料玻璃化转变温度的测量
焊锡材料低熔点金属的熔点测量
金属材料的转变点测量
固体（粉末）材料的比热容测量
特征
轻松测量固体或粉末的比热容
advance理工氙气闪光法热扩散率测量装置td-1系列
氙气闪光法热扩散率测量装置td-1系列
该装置能够评价和测量散热膜的厚度方向和内部各向---。采用氙气灯可降低对样品的侵蚀性，使用附件可轻松测量样品的各向---。
用法
高分子材料的热扩散率测量（厚度方向）
比热容的测量和导热系数的评估
可以对热扩散率进行各向---评估（面内方向）
多层材料的热扩散率评估（厚度方向）
特征
适用于导热高分子材料的热物性评价
测量气氛可以从空气、真空和惰性气体中选择（rta型仅支持空气）
省电（ac100v 15a，pc除外）
节省空间的桌面安装型
温度可控制在室温至 350°c（温度测量仅适用于 htv 型）
2ω法纳米薄膜热导率仪tcn-2ω
该装置是目---界上一款使用2ω法测量纳米薄膜厚度方向导热系数的商用装置。与其他方法相比，样品制备和测量可以很容易地进行。
用法
用于半导体器件热设计的低 k 绝缘膜热阻数值化
绝缘膜的开发及散热性的---
热电薄膜应用评估
特征
能够测量在基板上形成的 20 至 1000 nm 薄膜的厚度方向的热导率
热反射法温度振幅检测测量的实现
轻松预处理测量样品
激光闪光法热常数测量装置-津泽机电科技(在线咨询)-装置由重庆津泽机电科技有限公司提供。重庆津泽机电科技有限公司位于重庆市九龙坡区二郎街道火炬大道69号3幢501室。在市场经济的浪潮中拼博和发展，目前津泽机电科技在电子、电工产品制造设备中享有---的声誉。津泽机电科技取得---商盟，标志着我们的服务和管理水平达到了一个新的高度。津泽机电科技全体员工愿与各界有识之士共同发展，共创美好未来。
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